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          光致發光檢測系統助力陽能硅片生產

          光致發光檢測系統助力陽能硅片生產

          生產過程控制被認為是太陽能產業的一個關鍵的成功因素。不過,這僅僅是有助于取得成功的有利條件的一部分:為了全面優化生產并降低成本,生產商必須采取進一步措施以保證只加工無缺陷的材料。

          為了切實避免耗材的浪費和缺陷產品時間上的浪費,需要對每一個相關硅片的特性進行全面的在線檢測。新一代非接觸式光致發光檢測系統(PL檢測儀),為太陽能硅片提供高精度、高速度的質量保證。憑借其先進的技術特點,該系統可以準確預測基于原始硅片分析的電池效率。由于只需投資于加工良好的硅片,操作者大大降低了生產成本。

          系統采用光致發光技術。與電致發光系統相反,檢測和效率測量是無觸點進行的。這樣就避免了電子接觸裝置引起的裂痕、破損和其他常見缺陷。該創新性方案憑借基于光致發光的完整區域(最大范圍170mmx170mm)的均質照明,提供了缺陷檢測和分類的最佳性能。該系統能可靠地識別包括晶體缺陷、邊緣雜質和背景污染在內的各種缺陷。特殊影像過濾技術能夠自動識別臨界和非臨界缺陷。與傳統的光致發光法相比,顯像時間縮短到八分之一。此外,不需要專門的硅片定位。這樣,每小時可檢測3,600多個硅片。

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